導(dǎo)語

在精密光學(xué)領(lǐng)域，有一個讓無數(shù)工程師和科研人員夜不能寐的“幽靈"——“By Design"（按設(shè)計(jì)值）。

當(dāng)你拿到一片標(biāo)稱OD7甚至OD8的高性能濾光片，放進(jìn)實(shí)驗(yàn)室的分光光度計(jì)一測，結(jié)果卻是一片噪點(diǎn)，底噪卡在OD5-OD6動彈不得。此時(shí)，供應(yīng)商告訴你：“放心，這是設(shè)備測不出來，我們的設(shè)計(jì)值是達(dá)標(biāo)的。"

你敢信嗎？

在LIDAR、拉曼光譜和流式細(xì)胞術(shù)等應(yīng)用中，0.1nm的偏差或萬分之一的漏光都可能導(dǎo)致系統(tǒng)失效。“測不到"不代表“不存在"，但也可能代表“不合格"。

今天，我們來聊聊Alluxa如何用自研的HELIX™光譜分析系統(tǒng)，撕開“測不準(zhǔn)"的迷霧，讓OD9（-90dB）的深層阻斷和0.1nm的超窄帶寬無處遁形。

一、傳統(tǒng)測量的“阿喀琉斯之踵"

在深入HELIX之前，我們需要先理解為什么市面上昂貴的雙單色儀分光光度計(jì)，在面對高性能濾光片時(shí)會顯得力不從心。

這并非設(shè)備低端，而是物理原理的權(quán)衡（Trade-off）。

魚與熊掌不可兼得：光強(qiáng) vs 分辨率

傳統(tǒng)分光光度計(jì)通過衍射光柵和狹縫來分光。

• 想要高分辨率？ 你必須縮小狹縫寬度。但這會大幅減少光通量，導(dǎo)致信噪比（SNR）跳水，底噪瞬間抬升，深層截止（Blocking）根本測不到。

• 想要測深層截止？ 你必須放大狹縫、移除光闌以增加光強(qiáng)。但這會犧牲光譜分辨率（SBW變寬），導(dǎo)致原本陡峭的邊緣被“抹平"（Smearing），超窄帶的波峰變圓、透過率變低。

致命的“平均效應(yīng)"

除了狹縫，光斑大?。⊿pot Size）和入射錐角（f-number）也是由于。

薄膜濾光片對角度極其敏感。傳統(tǒng)設(shè)備為了獲得足夠的光，往往使用較大的光斑和較小的f數(shù)（大錐角）。這意味著光線以不同的角度穿過濾光片，探測器接收到的是不同角度光譜的“平均值"。

結(jié)果就是：邊緣模糊，帶寬失真，峰值塌陷。

痛點(diǎn)總結(jié)：絕大多數(shù)商用設(shè)備，只能在OD2-OD3的水平上分辨陡峭邊緣，或者在OD6的底噪上勉強(qiáng)看個大概。對于OD7以上的世界，它們是“盲"的。

二、HELIX™：為打破極限而生

既然市面上的尺子量不準(zhǔn)我們的布料，那就自己造一把尺子。

Alluxa工程團(tuán)隊(duì)開發(fā)的 HELIX™光譜分析系統(tǒng)，并不是對傳統(tǒng)設(shè)備的簡單改良，而是一次架構(gòu)級的重構(gòu)。它巧妙地結(jié)合了高功率激光源與雙單色儀系統(tǒng)。

圖 2：基于雙單色儀的分光光度計(jì)簡化示意圖

核心突破：

• 高強(qiáng)度準(zhǔn)直光源：解決了“光強(qiáng)"與“分辨率"的矛盾。即使在較高的光譜分辨率下，依然能保持較高的信噪比。

• 大f數(shù)與小光斑：較大限度減少了角度效應(yīng)和空間均勻性帶來的誤差，還原濾光片最真實(shí)的物理特性。

HELIX的實(shí)測能力有多強(qiáng)？

• 截止深度：可評估至 OD9 (-90 dB)。

• 邊緣追蹤：可從90%透過率一路追蹤至 OD7，且邊緣陡度可分辨至0.4%。

• 超窄帶寬：可解析 0.1 nm FWHM 的超窄帶通。

• 波長精度：高達(dá) ± 0.05 nm。

三、實(shí)測見真章：HELIX眼中的光學(xué)真相

光說參數(shù)不直觀，我們通過幾組實(shí)測對比，看看HELIX到底能看到什么。

1. 揭秘“方波"：超窄帶濾光片的真容

在LIDAR和太陽能成像應(yīng)用中，高腔數(shù)的超窄帶濾光片理論上應(yīng)該呈現(xiàn)優(yōu)秀的“方波"形狀——平頂、陡邊。但在傳統(tǒng)設(shè)備下，它們往往被測成了一個圓潤的“高斯峰"，透過率也顯得很低。

圖 6：1083 納米高腔數(shù)超窄帶通濾光片的測量結(jié)果對比圖 ——HELIX 系統(tǒng)測得的數(shù)據(jù)顯示，該濾光片的通帶呈盡數(shù)可分辨的方波型，且邊緣檢測可達(dá) OD7（-70 dB）級陡峭衰減

HELIX實(shí)測（上圖）：你可以清晰地看到一個優(yōu)秀的矩形波。HELIX完整解析了0.1nm級別的帶寬，邊緣筆直地切入OD7的深淵。這證明了濾光片的鍍膜工藝優(yōu)秀復(fù)刻了設(shè)計(jì)理論，而不是被測量設(shè)備“冤枉"了。

2. 追蹤“深淵"：OD9級截止的驗(yàn)證

對于熒光成像或流式細(xì)胞術(shù)，激發(fā)光和發(fā)射光的隔離度至關(guān)重要。如果濾光片有微小的針孔或鍍膜缺陷，就會導(dǎo)致漏光，破壞信噪比。

圖 5：高性能熒光濾光片的測量結(jié)果對比圖 —— 該濾光片采用陡峭邊緣設(shè)計(jì)，截止率優(yōu)于 OD8（-80 dB）；HELIX 系統(tǒng)測得的數(shù)據(jù)顯示，濾光片邊緣檢測分辨率可達(dá) OD7（-70 dB），且具備全域 OD8 級截止性能

HELIX實(shí)測（上圖）：注意看光譜的底部。傳統(tǒng)設(shè)備在OD6就變成了一條雜亂的直線（噪聲基底），而HELIX的曲線依然在向下延伸，清晰地展示了OD9（十億分之一透過率）級別的阻斷能力。

這意味著，Alluxa不僅能設(shè)計(jì)OD9，更能證明它做到了OD9。

3. 決勝“邊緣"：拉曼光譜的毫厘之爭

拉曼光譜應(yīng)用中，目標(biāo)信號與瑞利散射信號（激光線）往往只相差不到1nm。這就要求濾光片必須在極窄的范圍內(nèi)，從90%透過率迅速跌落到OD6以上。

圖 4：拉曼激光雷達(dá)濾光片的測量結(jié)果對比圖 —— 該濾光片邊緣斜率設(shè)計(jì)指標(biāo)為：從 90% 透射率衰減至 OD4（-40 dB）區(qū)間，斜率＜邊緣波長的 0.1%；兩片同款濾光片串聯(lián)使用時(shí)，可實(shí)現(xiàn)對 532 納米瑞利散射信號的 OD8（-80 dB）級截止；HELIX 系統(tǒng)對該濾光片邊緣的檢測分辨率可達(dá) OD7（-70 dB）

HELIX實(shí)測（上圖）：HELIX成功解析了陡度小于0.4%的邊緣過渡。對于那些需要串聯(lián)使用以達(dá)到OD8以上阻斷的系統(tǒng)來說，這種對邊緣波長的精確把控，是系統(tǒng)能否工作的決定性因素。

四、為什么你需要“看得見"的性能？

在精工光學(xué)系統(tǒng)中，“By Design"是一種博弈，而“Measured"是一種保障。

1.消除系統(tǒng)集成的隱患：

如果你的LIDAR系統(tǒng)信噪比不達(dá)標(biāo)，是因?yàn)樘綔y器不行，還是濾光片漏光？有了HELIX的實(shí)測數(shù)據(jù)，你可以排除濾光片的不確定性，快速定位問題。

2.質(zhì)量控制的閉環(huán)：

鍍膜過程中的微小偏差、針孔或表面缺陷，都會影響最終性能。HELIX能夠識別出那些“設(shè)計(jì)優(yōu)秀但制造有瑕疵"的產(chǎn)品，確保交付到客戶手中的每一片濾光片都是經(jīng)過嚴(yán)苛驗(yàn)證的。

3.挑戰(zhàn)物理極限的信心：

當(dāng)你需要定制帶寬小于0.5nm、截止深度大于OD8的極限濾光片時(shí)，只有具備相應(yīng)測量能力的制造商，才值得信賴。

結(jié)語

測量能力的邊界，就是制造能力的邊界。

Alluxa不僅在薄膜沉積技術(shù)上通過SIRRUS™等離子沉積工藝實(shí)現(xiàn)了突破，更通過HELIX™光譜分析系統(tǒng)，補(bǔ)齊了精工光學(xué)制造的收官一塊拼圖。

我們拒絕“盲盒"式的交付。無論你是需要分辨拉曼光譜的微弱信號，還是在LIDAR中通過強(qiáng)背景光提取回波，HELIX系統(tǒng)都能為你提供最真實(shí)、精準(zhǔn)的光譜數(shù)據(jù)。

因?yàn)樵诠鈱W(xué)的世界里，眼見為實(shí)。

• 想要驗(yàn)證您的濾光片真實(shí)性能？

Alluxa提供從設(shè)計(jì)、鍍膜到精密測量的全流程服務(wù)。如果您對超窄帶、超陡邊緣或深截止濾光片有特殊需求，歡迎聯(lián)系我們的工程師團(tuán)隊(duì)。

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